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上架日期： 2011年9月27日瀏覽量： 427次

CTS-1008plus 型TOFD成像超聲設備（探傷儀）

產品價格：￥詢價（人民幣）

規(guī)格：CTS-1008plus

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商品詳情

CTS-1008plus 型TOFD成像超聲設備（探傷儀）

TOFD成像超聲設備CTS-1008plus，成為目前國內唯一掌握TOFD探頭、TOFD儀器及配套掃查架自主設計、制造的廠家。經大量的測試對比，其性能和功能極具競爭力，充分體現了設備成套設計和制造所帶來的先進性和優(yōu)越性。產品完全符合國內JB/T 4730、GB/T 23902-2009及國外API、ASME、BS、ASTM等標準要求。
CTS-1008plus便攜式超聲探傷儀成功地將常規(guī)PE檢測的高級性能和TOFD成像檢測技術完美結合在一起。其常規(guī)PE檢測支持通用的脈沖反射式超聲探傷，性能優(yōu)異、功能強大實用、具備多種高級性能和支持多種檢測標準及應用；而TOFD成像檢測技術則是利用超聲衍射時差技術工作，配備本公司研制的復合材料探頭，對缺陷具有檢出率高，定量定位精度高，檢測簡單快捷，檢測效率高等特點；同時該款儀器還可以外接多款掃查設備，支持B、C、D等多種成像方式。整機重量僅1.4kg，是目前國內重量最輕的TOFD檢測儀，完全滿足您便攜式移動檢測及各種特殊檢測場合的作業(yè)需要。

CTS-1008plus 型TOFD成像超聲設備（探傷儀）主要特點：

*TOFD成像技術(詳情見技術參數)

* 支持常規(guī)PE掃查后，TOFD復核、精確測量缺欠尺寸和輪廓，評估缺欠特性及走向；支持TOFD成像后，常規(guī)PE確認

* 最高采樣率可達640MHz，測量分辨率0.1mm，最小顯示范圍2mm

* 工作頻率0.5-20MHz，靈敏度余量高達62dB，低頻更有更佳的信噪比

* 高亮度、高分辨率(640x480) 彩色TFT液晶顯示屏，實現最佳的讀測結果，國內手持儀器無出其右

* 帶有調節(jié)選項的高性能脈沖方波發(fā)生器，和探頭實現最佳的匹配(可實現無感線圈探頭的優(yōu)良激勵),無論是檢測高衰減材料還是薄工件均能帶來最優(yōu)的性能。方波發(fā)生器電壓極性可提供正、負兩種，亦可同時提供負方波和負尖脈沖

* 體積小，重量輕，鋰電池供電，可連續(xù)工作6小時以上

* 具備LAN網絡接口，實現數據的遠程傳輸及儀器控制。當儀器做為方波發(fā)生器時，可提供對儀器參數的控制

* 兩維增量型編碼器接口，實現精確的位置檢測成像(B、C、D掃)

* 同步模擬RF波形輸出，輸出阻抗50Ω，可做為數據采集及探頭測試的信號源

* 高速USB接口，可外接U盤實現數據的存儲和轉存；外掛鼠標能實現對圖像化檢測結果實現精確的分析

* 內置充電功能；電池、直流供電自動檢測顯示；充電、供電自動切換，充電溫度雙重保護；應用戶需求可配外置充電器

* 多種軟件功能,覆蓋檢測的方方面面；獨特的、獨創(chuàng)性的鍵盤及萬能旋鈕調節(jié)方式，使探傷倍感輕松無憂；人性化的菜單設計、多種輸入法輸入方式、中英文語言菜單等

* 自動測試探頭頻率、自動優(yōu)化方波寬度，實現探頭和儀器的最優(yōu)配合

* 圖像化厚度報警功能、波形連續(xù)存儲功能及多種波形測量模式

* 自動測量儀器指標功能及波峰自動搜索功能

* 報警時閘門內波形顏色改變、DAC曲線報警顏色提醒、DAC曲線自動延伸

* 增加API 5UE 和 AWS D1.1功能

CTS-1008plus 型TOFD成像超聲設備（探傷儀）主要技術指標：

脈沖類型	正方波脈沖，幅度及寬度可調
脈沖前沿	< 10ns
脈沖寬度	30～1000ns連續(xù)可調，5ns步進，高頻時自動優(yōu)化為脈沖激勵
脈沖幅度	發(fā)射電壓25V-250V連續(xù)可調，25V步進
阻抗	400、80Ω
重復頻率	25～1000Hz可調節(jié)
檢波方式	數字檢波
采樣頻率	160MHz(硬件)
頻帶寬度	0.5～20MHz（寬帶）、1～5MHz（窄帶）
動態(tài)范圍	> 32dB
垂直線性誤差	< 3%
水平線性誤差	< 0.2%
分辨力	> 36dB
靈敏度余量	> 62dB
波形顯示方式	射頻波
聲速范圍	1000～15000m/s
檢測范圍	0.0～10000mm (鋼縱波)。連續(xù)可調，最小步進值 0.1mm
脈沖移位	脈沖移位: -7.5～3000μs 。
觸發(fā)方式	編碼器觸發(fā)（最大分辨力0.125mm）
等效輸入噪聲
衰減精度	< ±1dB/20dB
成像模式	根據儀器的設置和掃查方式顯示B掃、D掃、TOFD成像
記錄方法	完全原始數據記錄
掃查長度	單次最長5m，自動滾屏,多次無限制
最小檢測厚度	> 6mm，需配合本司探頭
掃查架	手動、手推、磁吸、可為用戶定做
探頭	復合材料，詳細參數見規(guī)格表
在線/離線數據分析	恢復和回放掃查記錄的A掃波形缺陷尺寸和輪廓、缺陷標記及記錄直通波拉直、底波拉直、差分、對比度調整、SAFT(離線)
數據報告	直接打印校驗表、A掃波形、B掃圖像、D掃圖像、TOFD圖像
接口	LAN、USB、兩維編碼器
顯示	5.7”高亮真彩色高分辨率640×480象素TFT屏，掃查時A掃波形和B、D掃圖像同步顯示
控制	前面板、旋鈕、鼠標、鍵盤
可外接設備	USB、鍵盤、鼠標，通過USB或LAN連接打印機、U盤

規(guī)格：

頻率	晶片尺寸	接口	配套斜塊
10MHz	3mm	L5兼容microdot 插頭探頭外形尺寸：高度（含接口）約22mm	按用戶需要定做，常規(guī)45、60、70度
10MHz	6mm
5MHz	12mm
5MHz	6mm
2.5MHz	12mm
2.5MHz	6mm
1MHz	20mm