商鋪名稱：濟寧市奧之星電子科技有限公司
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測試方法
兒童智力測試
1.1、聯(lián)合型瑞文測驗（CRT-C3） 可以對7～16歲兒童進行智商測試。
1.2、丹佛發(fā)展篩選量表（DDST） 適合0～6歲兒童的智能發(fā)育篩查。
1.3、繪人智能測驗（MOD） 可以測定4～12歲兒童的智能成熟程度。
1.4、圖片詞匯測試（PPVT） 適合3歲6個月至9歲2個月兒童的智商測評。
1.5、中國兒心 中國0～6歲兒童神經(jīng)心理發(fā)育量表。
1.6、智能開發(fā)指導(dǎo)方案 可以對1～84月的兒童進行智能開發(fā)指導(dǎo)。
測試時間
兒童智力測試
1.1、CRT-C3測試標準時間為20～40分鐘，大部分兒童可在20分鐘之內(nèi)完成。
1.2、DDST測試時間一般在10～30分鐘；
1.3、MOD測驗標準時間為20分鐘，兒童多在10分鐘之內(nèi)完成；
1.4、PPVT根據(jù)被測試兒童的實際年齡而定，最長為20分鐘；
