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這是特殊的成分分析，由一些具備較高成分分析技術實力第三方測試機構推出，用于分析被測物中出現的瑕疵或影響功能的特殊因素（例如透明屏幕的污點等）。
濕法分析直讀光譜（OES）
電感耦合等離子體放射光譜（ICP-AES）
電感耦合等離子體質譜儀（ICP-MS）
原子吸收光譜（AAS）
XRF
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