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EL140S-M EL缺陷檢測(cè)儀 
適用于電池片和組件，可檢測(cè)缺陷包括： 
■裂片 
■微隱裂 

■破洞 
■斷柵 
■短路 
■印刷不良 
■工藝污染等缺陷。 
■  超大靶面CCD，靶面尺寸達(dá)到15  ×25mm，是普通CCD靶面的6倍 ■鏡頭尺寸達(dá)到∮52mm,是普通工業(yè)鏡頭進(jìn)光面積的5-8倍 
■  超低制冷溫度，最低可達(dá)-50  ℃，完全消除背景噪聲 
■積分式低制冷型紅外增強(qiáng)CCD，950nm紅外光透過率達(dá)到97% 
■非魚眼型鏡頭，避免了魚眼鏡頭產(chǎn)生的圖像扭曲、圖像變形、邊緣陰暗等缺陷，消除了此項(xiàng)重要誤差 
■  功能強(qiáng)大的軟件，品質(zhì)可靠的硬件，確保產(chǎn)線無故障生產(chǎn)運(yùn)行。 
■  操作簡(jiǎn)便，功能齊備，確保儀器全面解決各種缺陷檢測(cè) 
■  儀器細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)完美，消除人為誤操作因素 
■  強(qiáng)大的軟件功能，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)判別缺陷，自動(dòng)報(bào)警，不合格圖像單獨(dú)存儲(chǔ) 
■人工判別與自動(dòng)判別相結(jié)合，可找出組件細(xì)微缺陷，實(shí)現(xiàn)全方位檢測(cè)。 
■全自動(dòng)檢測(cè)---與產(chǎn)線結(jié)合，自動(dòng)進(jìn)樣、自動(dòng)定位、自動(dòng)加電、自動(dòng)檢測(cè)、自動(dòng)存儲(chǔ)、自動(dòng)檢測(cè)、自動(dòng)出樣回歸產(chǎn)線。實(shí)現(xiàn)組件無任何人工操作，避免人為損壞組件。 
■鼠標(biāo)隨動(dòng)顯示，任意指向目標(biāo)位置，操作快速簡(jiǎn)便 
■最大檢測(cè)尺寸可達(dá)        2200mm×1200mm   
■成像時(shí)間：0  ~  5000毫秒  可調(diào)節(jié)   
■圖像有效像素：不小于1200萬像素   
■CCD制冷溫度：達(dá)到-50°C 
■CCD靶面尺寸：不小于25  mm  ×  15  mm   
■鏡頭尺寸：大尺寸進(jìn)光鏡頭，鏡頭直徑不小于∮52mm     
■可選配：光強(qiáng)度分布分析檢測(cè)系統(tǒng)可以三維圖像方式，直觀、精確地生成各部分發(fā)光強(qiáng)度分布圖，并標(biāo)出光強(qiáng)精確數(shù)值。對(duì)各部分發(fā)電效率一目了然。
 

公司名稱：武漢三工光電設(shè)備制造有限公司

公司地址：湖北武漢東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)武漢大學(xué)科技園武大園四路

公司官網(wǎng)：http://www.sunic.com.cn

聯(lián)系人：陶女士

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