天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢經(jīng)銷Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350
產(chǎn)品型號：Crossbeam 350
關(guān)鍵字：Carl Zeiss電子顯微鏡Crossbeam 350
關(guān)鍵字描述：
產(chǎn)品介紹：
無需耗時搜索ROI即可開始工作流程
使用氣閘上的導(dǎo)航攝像頭找到標(biāo)本
集成的用戶界面使您可以輕松導(dǎo)航到ROI
受益于SEM中大而無失真的視野
銅樣品的薄片準(zhǔn)備好提升
通過簡單的三步流程開始準(zhǔn)備：ASP
定義配方包括漂移校正，沉積和粗銑和精磨
FIB色譜柱的離子光學(xué)系統(tǒng)可實現(xiàn)工作流程的高通量
復(fù)制配方并根據(jù)需要重復(fù)以開始批量準(zhǔn)備
蔡司Crossbeam的TEM薄片制備工作流程的一部分
帶上顯微操縱器并將薄片連接到其尖端
從散裝中切出薄片
然后，薄片準(zhǔn)備好提升并且可以轉(zhuǎn)移到TEM網(wǎng)格
使用Gemini電子光學(xué)從高分辨率SEM圖像中提取真實樣本信息。Ion-sculptor FIB色譜柱引入了一種新的FIB處理方式：通過大限度地減少樣品損傷，您可以大限度地提高樣品質(zhì)量并同時更快地進行實驗。在制備TEM樣品時，使用離子雕刻機FIB的低電壓功能：獲得超薄樣品，同時保持 少量的非晶化損傷。在ZEISS Crossbeam系列中，要么利用Crossbeam 350的可變壓力功能或者使用Crossbeam 550進行苛刻的表征。
參數(shù)：
SEM：Gemini I光學(xué)，VP選項
腔室尺寸和端口標(biāo)準(zhǔn)：帶18個可配置端口
顯微鏡臺：100毫米行程范圍x / y
示例選項：Inlens SE和Inlens EsB 用于同時成像SE / EsB 成像
VPSE探測器
可變壓力功能（可選）
瑞利光電擁有一支年輕的團隊，相關(guān)人員知識經(jīng)驗豐富，熟悉國際貨幣度量衡，商業(yè)習(xí)慣，貨物運輸與保險等政策，在處理貿(mào)易接洽等問題上，能夠采用合理的處理方式，根據(jù)國內(nèi)外相關(guān)法律法規(guī)、國際市場競爭現(xiàn)狀和發(fā)展態(tài)勢來服務(wù)客戶。