wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈 高強度紫外線燈
晶片晶圓表面瑕疵檢查燈是一款手持式wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈，符合ASTM E 3022等各種國際標準，適用各行的檢測；配有三腳架，解放雙手方便各種測試; 高強度紫外線細微檢測晶圓表面各種瑕疵，紫外燈的光束輪廓非常均勻，沒有任何足跡顯示LED的陰影，黑點或其他干擾缺陷; SL8904系列具有4個強大的UV-A（365 nm）LED和6個側(cè)邊的白光LED，它們使用2個獨立的開關(guān)，無需單獨的手電筒。
wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈
wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈
wafer晶片晶圓表面瑕疵檢查燈簡介規(guī)格參數(shù)：
峰值波長:365 – 370nm;
紫外線強度： 22000uw/cm2，在15英寸距離（相當于380mm距離 ）-可以按照客戶的要求設(shè)計 ;
紫外線燈數(shù)： 4× 5W 365NM UV LED和6個側(cè)邊白燈， LED平均壽命是30000小時
電源:交流100-240AC/50H充電器 ;直流聚合物電池組—交流和直流2種供電方式。
照射面積： 120 * 160mm在38厘米距離
紫外線光強的穩(wěn)定性： > 90 ％