TO220\/247ATE測試座用于IGBT
深圳市鴻怡電子有限公司
主營：ICsocket、IC老化座、IC燒錄座
2025/5/7
QFN82（8*8）-0.35芯片測試座用于
QFN104芯片測試座0.35mm間距10x
LCC48-1.0收發(fā)光模塊測試座支持10G
MSOP10轉(zhuǎn)DIP10老化測試座帶板編程燒
QFN88-0.35下壓老化座支持V831A
QFN40-0.5微小型測試座支持6x6mm
DFN6-0.65-2x2芯片燒錄座用于此類
定制QFJCLCC24帶引腳陶瓷芯片載體測試
PLCC28-1.27-12.45x12.4
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